Doctor
Abdiel Osvan Pino
Docente de la Universidad Tecnológica de Panamá
SISTEMA Y PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE LA RUGOSIDAD DE UNA MUESTRA DE PAPEL MEDIANTE EL ANALISIS DEL PATRON DE TEXTURA DEL SPECKLE
PATENT
Autores: Abdiel Osvan Pino
Fecha de Publicación:2013
Organización certificadora:Otras fuentes
Using laser speckle to measure the roughness of paper
OTHER
Autores: Pino, A.; Pladellorens, J.; Colom, J.F.; Cusola, O.; Tosas, A.
Fecha de Publicación:2011
Organización certificadora:Scopus - Elsevier
Mostrando pág. 1 de 1, para 2 registros.
Publicaciones Técnicas
Publicaciones técnicas en los últimos 5 años.