Doctor
Abdiel Osvan Pino
Docente de la Universidad Tecnológica de Panamá
Captación de niebla como fuente alternativa de agua en la Región de Azuero.
JOURNAL_ARTICLE
Autores: Manaen Esteban Bobadilla Caballero; Rolando Abdiel Rosales Jaén; Abdiel Osvan Pino
Fecha de Publicación:2021
Organización certificadora:Crossref
Malcom McLean
JOURNAL_ARTICLE
Autores: Manaen Esteban Bobadilla Caballero; Abdiel Osvan Pino
Fecha de Publicación:2019
Organización certificadora:Crossref
An experimental study for characterizing surface roughness by speckle pattern analysis
CONFERENCE_PAPER
Autores: Pino, A.; Pladellorens, J.
Fecha de Publicación:2015
Organización certificadora:Scopus - Elsevier
Optical inspection methods and their applications in the manufactured industrial sector: Knowledge transfer to Panamanian industry
CONFERENCE_PAPER
Autores: Pino, A.O.; Pladellorens, J.
Fecha de Publicación:2014
Organización certificadora:Scopus - Elsevier
Towards online measurement of roughness using laser speckle contrast
JOURNAL_ARTICLE
Autores: Pladellorens, J.; Cusola, O.; Caum, J.; Royo, S.; Tosas, A.; Pino, A.
Fecha de Publicación:2014
Organización certificadora:Scopus - Elsevier
Measurement of the roughness surface of the specials papers using the normalized autocorrelation function of the fields of the texture of speckle pattern
CONFERENCE_PAPER
Autores: Pino, A.O.; Pladellorens, J.
Fecha de Publicación:2013
Organización certificadora:Scopus - Elsevier
Measurement of the roughness surface using the normalized autocorrelation function of the fields of the texture of speckle pattern
CONFERENCE_PAPER
Autores: Pino, A.O.; Pladellorens, J.
Fecha de Publicación:2012
Organización certificadora:Scopus - Elsevier
Roughness measurement of paper using speckle
JOURNAL_ARTICLE
Autores: Pino, A.; Pladellorens, J.; Cusola, O.; Caum, J.
Fecha de Publicación:2011
Organización certificadora:Scopus - Elsevier
Method of measure of roughness of paper based in the analysis of the texture of speckle pattern
CONFERENCE_PAPER
Autores: Pino, A.O.; Pladellorens, J.; Colom, J.F.
Fecha de Publicación:2010
Organización certificadora:Scopus - Elsevier
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Publicaciones Científicas
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